Think Precise
光測試檢測儀器
Santec可提供一套完整的用于光學特性測試系統，搭配Santec的不同的儀器儀表可配置出不同的高速分析測試解決方案。Santec可根據您的需要，進行定制化，歡迎隨時聯系我們。
光學器件掃描測試系統
快速掃描測試系統(Swept Test System)
該系統由可調諧激光器（TSL系列）、偏振控制器（PCU-110)、光功率計(MPM)以及相應的軟件組成?？蓪L/WDL/PDL等光學器件進行測試，適用于R&D和產線。多工位快速掃描測試系統
通過將Swept Test System與Multi Branch Unit相組合，可進一步提高測試效率。
Swept Test System introduction video
( Multi-station measurement )
多通道光功率計
MPM-210H/MPM-211, 212, 213,215
快速多通道光功率計- 高速測量(Up to 100萬logging sampling points /每個通道)
- 功率計模塊(MPM-211/212/215)
- 電流計模塊(MPM-213)
- 多達20-Port測量
- 動態功率范圍 (logging mode)
50dB/scan (MPM-211 / 212)
70dB/scan (MPM-215)
